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原子力顯微鏡(AFM)FM-Nanoview 6800AFM

FM-Nanoview 6800AFM


一、主要功能特點

硬件系統
1.光機電一體化設計,外形結構簡單;2.掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強;
3.精密激光檢測及探針定位裝置,光斑調節簡單,操作方便;
4.采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;
5.伺服馬達手動或自動脈沖控制,驅動樣品垂直接近探針,實現掃描區域精確定位;
6.高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區域;
7.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據不同精度和掃描范圍要求選擇;
8.帶光學定位的CCD觀測系統,實時觀測與定位探針掃描樣品區域;
9.采用伺服馬達控制CCD自動對焦功能;
10.模塊化的電子控制系統設計,便于電路的持續改進與維護;
11.集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統使用。
12.帶溫度、濕度顯示。
13.彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,抗干擾能力強
14.帶光學定位功能   

軟件系統
1.可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像;
2.具備接觸、輕敲兩種模式,可選配(相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式);
3.可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512;
4.多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖;
5.多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能;
6.可進行掃描區域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區域;
7.可任意選擇樣品起始掃描角度;
8.激光光斑檢測系統的實時調整功能;
9.針尖共振峰自動和手動搜索功能;
10.可任意定義掃描圖像的色板功能;
11.支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能;
12.支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正;
13.支持樣品圖片離線分析與處理功能。 

二、主要技術指標

 
1.工作模式:接觸、輕敲、可擴展相位、摩擦力、磁力或靜電力
2.樣品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm
3.最大掃描范圍:橫向50um,縱向5um
4.掃描分辨率:橫向0.2nm,縱向0.05nm
5.掃描速率:0.6Hz~4.34Hz
6.掃描角度:任意
7.樣品移動范圍:0~50mm
8.馬達趨近脈沖寬度:10±2ms
9.光學放大倍數:10X
10.光學分辨率:1um
11.圖像采樣點:256×256,512×512
12.掃描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
13.數據采樣:14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
14.反饋方式:DSP數字反饋
15.反饋采樣速率:64.0KHz
16.計算機接口:USB2.0
17.運行環境:運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統

原子力檢測實例:
http://pan.baidu.com/s/1sl2Hjzv

我公司舉辦吉倉飛時曼免費原子力檢測活動
http://www.jcno.net/news/info/id/10293

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